如何用超聲檢測壓力容器的厚度

如何用超聲檢測壓力容器的厚度

1.1 測定范圍

表9-10 缺陷按指示長(cháng)度分級表 mm

注：當對接焊縫兩側板厚不同時(shí)．以較薄者為準。
    本章適用于采用數字直讀式超聲波測厚儀或A型脈沖反射式超聲波探傷儀對壓力容器板材、封頭、筒體和接管厚度進(jìn)行的超聲測定。

1.2 幾種主要材料的聲速范閣
    幾種主要材料的聲速范圍，見(jiàn)表10-1。使用時(shí)，如有必要，應對材科進(jìn)行實(shí)際聲速測定。

表10 -1 幾種主要材料的聲速 m／s 在用雙晶直探頭測定時(shí)，將分割面的方向轉動(dòng)90°，在同一測定點(diǎn)測兩次的測定方法。測定值以小的數值為準。
    1.8.3 ф30mm多點(diǎn)測定法
    當測定值不穩定時(shí)，以一個(gè)測定點(diǎn)為中,心在30mm的范圍內進(jìn)行多點(diǎn)測定。測定值以*小值為HE。
    1.8.4 管子壁厚的測定方法
    單直探頭測定時(shí)，應使探頭中心線(xiàn)與管軸中心線(xiàn)相垂直，并通過(guò)管鈾中心，使用雙晶直探頭測定時(shí)，探頭分割線(xiàn)必須與管軸中心線(xiàn)垂直。

1.3 儀器及探頭
    1.3.1 超聲波測厚儀的精度應達到±(T％十0．1)mm，T為壁厚。
    1.3.2 超聲測厚通常采用直接接觸式單晶直探頭，也可采用帶延遲塊的單晶直探頭和雙晶直探頭。
    1.3.3 高溫試件的壁厚測定需用特殊高溫探頭。

1.4 校正試塊
    1.4.1 試塊的基本要求和尺寸見(jiàn)圖10—1。
    1.4.2 測定曲面工件厚度時(shí)，應使用同一曲率的試塊，或者對平面試塊加以修正。

1.5 耦合劑
    應根據被測件的表面狀況及聲阻抗，選用無(wú)氣泡、粘度適宜的耦臺劑，如甘油、機油、硅膠、水玻璃和漿糊等。若工件表面粗糙，則應選擇比較稠的耦臺劑。

1.6 儀器校正
    1.6.1 超聲波測厚儀的校正
    a. 采用臺階試塊，分別在厚度接近待測厚度的*大值和待測厚度的*小值(或待測厚度*大值的1／2)進(jìn)行校正。
    b.將探頭置于較厚試塊上，調整“聲速校正”旋鈕，使測厚儀顯示讀數接近已知值。
    c.將探頭置于較薄的試塊上，調整“零位校正”旋紐，使測厚儀顯示讀數接近已知值。
    d.反復調整，使量程的高低兩端都得到正確讀數，儀器即告調試完畢。
    e.若已知材料聲速，則可預先調好聲速值，然后在儀器附帶的試塊上，調節“零位校正”旋鈕，使儀器顯示水為試塊的厚度，儀器即調試完畢。
    1.6.2 超聲波探傷儀的校正
    a.同1.6.1 a。
    b.探頭置于較厚試塊上，調節儀器“掃描范圍”旋鈕．直到底面回波出現在相應刻度位置上。
    c.探頭置于較薄試塊上，調節儀器“延遲掃描”旋鈕，直到底面回波出現在相應刻度位置上。
    d.反復調整，直到在厚，薄試塊上的底面回波均出現在正確的刻度位置，儀器即告調整完畢。

1.7 測定準備
    測定面上存在的浮銹、鱗皮或部分脫離的涂膜應進(jìn)行清洗，必要時(shí)可用砂輪進(jìn)行適當的修磨。

1.8 測定方法
    在測定點(diǎn)只進(jìn)行一次測定的方法，一般適用于單晶直探頭的場(chǎng)合。
    1.8.2 二次測定法
   

1.9 測定值異常時(shí)的處理
    在采用超聲調厚儀測定時(shí)．有時(shí)會(huì )出現異常值，必須進(jìn)行適當的處理。
    1.9.1 沒(méi)有顯示值
    若工件曲率半徑太小或背面有大量點(diǎn)腐蝕時(shí)，測厚儀會(huì )沒(méi)有顯示值，這時(shí)應采用超聲波探傷儀進(jìn)行輔助測定。
    1.9.2 顯示值為實(shí)際厚度的兩倍左右
    工件壁厚小于3mm，且背面比較光滑．為避免測厚儀的顯示值有時(shí)為實(shí)際厚度的兩倍，這時(shí)應采用小測距探頭或專(zhuān)用探頭。
    1.9.3 顯示值比實(shí)際厚度小
    當存在夾雜、夾層等內部缺陷時(shí)，測厚儀顯示值常小于公稱(chēng)厚度的70％，這時(shí)應采用超聲探傷儀對測定點(diǎn)周?chē)M(jìn)行檢測，確認是否是受缺陷的影響，探頭可采用直探頭或斜探頭。

1.10 報告
    報告至少應包括以下內容：
    a.工件名稱(chēng)、材質(zhì)、編號、委托單位；
    b.儀器型號、探頭、試塊、耦合劑、測定方法；
    G.測量部位和數據、測量部位草圖、測量數據的*大值和*小值，
    d.操作人員、校核人員；
    e.測定日期。